无锡江南电缆有限公司检测中心

检测项：部分项目 检测样品：聚氯乙烯绝缘电缆 标准：额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第1部分:一般要求 GB/T5023.1-2008

检测项：部分项目 检测样品：聚氯乙烯绝缘电缆 标准：额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆 第5部分:软电缆(软线) GB/T5023.5-2008

检测项：部分项目 检测样品：架空绝缘电缆 标准：额定电压10kV架空绝缘电缆 GB/T14049-2008

机构所在地：江苏省宜兴市 更多相关信息>>

辽宁省电子信息产品监督检验院（辽宁省信息安全与软件测评认证中心）/辽宁北方实验室有限公司

检测项：温度/湿度循环试验 检测样品：电工电子产品环境试验温度/湿度循环试验 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验GB/T2423.34-2005

检测项：高温试验 检测样品：电工电子产品环境试验高温试验 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008

检测项：低温试验 检测样品：电工电子产品环境试验低温试验 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温GB/T 2423.1-2008

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

北京无线电计量测试研究所

检测项：温度冲击试验 检测样品：电工电子产品、军用设备 标准：军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB150.5A-2009 电子及电子元件试验方法 方法107 温度冲击试验 GJB360B-2009

检测项：频率温度特性 检测样品：频率标准 标准：石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995

检测项：噪声温度 检测样品：电工电子产品、军用设备 标准：军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB150.3A-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安航天计量测试研究所

检测项：温度波动度 检测样品： 标准：

检测项：温度偏差 检测样品： 标准：

检测项：温度偏差 检测样品：盐雾试验箱 标准：盐雾试验箱技术条件 GB/T 10587-2006

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

东莞辰达电器有限公司测试中心

检测项：温度试验 检测样品： 标准：

检测项：温度试验 检测样品：接地故障电路断路器 标准：接地故障电路断路器 UL943:2012

检测项：GFCI插座温度试验 检测样品：器具漏电断路器 标准：器具漏电断路器 UL943B:2011

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

南京理工大学化学材料测试中心

检测项：粉尘层最低着火温度 检测样品：粉尘爆炸 标准：GB/T16430-1996 粉尘层最低着火温度测定方法； ASTM E2021-2006 粉尘层最低着火温度测定方法 IEC 61241-2-1-1994 粉尘层最低着火温度测定方法；

检测项：着火温度 检测样品：炸药 标准：烟火药剂着火温度的测定差热-热重法 GB/T19469-2004

检测项：温度冲击 检测样品：炸药 标准：军用设备环境试验方法　温度冲击试验 GJB150.5—86

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

长春汽车检测中心

检测项：充电耦合器工作温度 检测样品： 标准：

检测项：供电设备表面温度 检测样品： 标准：

检测项：耐温度变化性能 检测样品：汽车电子零部件-环境试验 标准：GB/T 2423.22–2002(idt IEC 60068–2–14:1984)电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

北京汽车研究所有限公司实验中心

检测项：极端温度下的功能试验 检测样品： 标准：

检测项：极端温度下的功能试验 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京东方计量测试研究所

检测项：温度冲击 检测样品：仪器仪表、计量器具、电工电子产品、电子测量仪器、军用装备设备（环境试验） 标准：GB/T 2423.22-2002 电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法 GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验

检测项：全部参数 检测样品：温度试验设备 标准：GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备

检测项：全部参数 检测样品：温度、湿度、振动综合试验设备 标准：GJB 5020-2003 温度、湿度、振动综合试验设备校准方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：温度循环 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环（空气-空气） 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验；

检测项：高温寿命（非工作） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：温度循环 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>